廠(chǎng)家帶您了解:光譜分析儀的基本原理
基體效應是個(gè)無(wú)法避免的客觀(guān)事實(shí),其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線(xiàn)強度的變化,除待測元素外,基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的 射線(xiàn)和待測元素特征X射線(xiàn)產(chǎn)生光電效應的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見(jiàn)的主要造巖元素)的幾率大得多,也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線(xiàn)和待 測元素的特征X射線(xiàn)的吸收系數比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線(xiàn)和待測元素的特征X射線(xiàn)康普頓散射幾率比重元素大得多。
為了敘述方便,假 設樣品中存在待測元素A,相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數比A元素的原子序數大一些,B元素能被放射源放出的射線(xiàn)所激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征X射線(xiàn) BK,BKX射線(xiàn)又能激發(fā)A元素;C元素的原子序數小于待測元素A的原子序數,且能被A元素特征X射線(xiàn)所激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X射線(xiàn);輕元素的原子序數測距 A、B、C元素的原子序數較遠,被激發(fā)的幾率很小,可以忽略不計,那么對待測元素A特征X射線(xiàn)強度的影響有以下幾個(gè)方面:
一、放射源放出的射線(xiàn)激發(fā)待測元素A,產(chǎn)生特征X射線(xiàn)AK線(xiàn)稱(chēng)為光電效應。光譜儀價(jià)格
二、AKX線(xiàn)在出射樣品時(shí)遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線(xiàn)CK而A元素特征X射線(xiàn)強度減小了,稱(chēng)為吸收效應。
三、放射源激發(fā)了B元素,BKX線(xiàn)又激發(fā)了A元素,使A元素特征X射線(xiàn)計數增加,稱(chēng)為增強效應,又稱(chēng)為二次熒光。
四、放射源激發(fā)了元素C和元素B,使得激發(fā)元素A幾率減小。
五、放射源放出的射線(xiàn)與輕元素相互作用發(fā)生康普頓效應,可能發(fā)生一次康普頓效應也可能發(fā)生多次康普頓效應,發(fā)生康普頓效率之后射線(xiàn)能量損失一部分在出射樣品路程中可能會(huì )激發(fā)元素A、B、C,也可能不發(fā)生作用,稱(chēng)為康普頓效應。
以上只是描繪了一個(gè)簡(jiǎn)單的圖象,實(shí)際上X射線(xiàn)的吸收、增強、散射過(guò)程要復雜得多。若待測元素與標準的基體成份不一致,必然會(huì )使分析結果出現較大誤差。這就是吸收效應、增強效應、散射效應影響,統稱(chēng)為基體效應。 希望以上介紹能幫助到大家,若有其他問(wèn)題可咨詢(xún)網(wǎng)站客服。
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