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兩分鐘了解：光譜分析儀中的基體效應

文章出處：先生閱讀數：發(fā)表時(shí)間：2022-3-19 16:41:26 【大中小】

光譜分析儀測量的樣品，其成份通常都是由多種元素組成的，除待測元素以外的元素統稱(chēng)為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的（這個(gè)變化一是指元素的變化，二是指含量的變化），它直接影響待測元素特征X射線(xiàn)強度的測量。換句話(huà)說(shuō)，待測元素含量相同，由于其基體成份不同，測量到的待測元素特征X射線(xiàn)強度是不同的，這就是基體效應?；w效應是X射線(xiàn)熒光定量分析的主要誤差來(lái)源之一?；w效應是個(gè)無(wú)法避免的客觀(guān)事實(shí)，其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)（吸收）和散射造成特征X射線(xiàn)強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的射線(xiàn)和待測元素特征X射線(xiàn)產(chǎn)生光電效應的幾率比輕元素（在地質(zhì)樣品中一些常見(jiàn)的主要造巖元素）的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線(xiàn)和待測元素的特征X射線(xiàn)的吸收系數比輕元素大得多；輕元素對激發(fā)源放出的射線(xiàn)和待測元素的特征X射線(xiàn)康普頓散射幾率比重元素大得多。為了敘述方便，假設樣品中存在待測元素A，相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數比A元素的原子序數大一些，B元素能被放射源放出的射線(xiàn)所激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征X射線(xiàn) BK,BKX射線(xiàn)又能激發(fā)A元素；C元素的原子序數小于待測元素A的原子序數，且能被A元素特征X射線(xiàn)所激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X射線(xiàn)；輕元素的原子序數測距 A、B、C元素的原子序數較遠，被激發(fā)的幾率很小，可以忽略不計，那么對待測元素A特征X射線(xiàn)強度的影響有以下幾個(gè)方面：一、放射源放出的射線(xiàn)激發(fā)待測元素A，產(chǎn)生特征X射線(xiàn)AK線(xiàn)稱(chēng)為光電效應。光譜儀價(jià)格二、AKX線(xiàn)在出射樣品時(shí)遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線(xiàn)CK而A元素特征X射線(xiàn)強度減小了，稱(chēng)為吸收效應。三、放射源激發(fā)了B元素，BKX線(xiàn)又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線(xiàn)計數增加，稱(chēng)為增強效應，又稱(chēng)為二次熒光。四、放射源激發(fā)了元素C和元素B，使得激發(fā)元素A幾率減小。五、放射源放出的射線(xiàn)與輕元素相互作用發(fā)生康普頓效應，可能發(fā)生一次康普頓效應也可能發(fā)生多次康普頓效應，發(fā)生康普頓效率之后射線(xiàn)能量損失一部分在出射樣品路程中可能會(huì )激發(fā)元素A、B、C，也可能不發(fā)生作用，稱(chēng)為康普頓效應。以上只是描繪了一個(gè)簡(jiǎn)單的圖象，實(shí)際上X射線(xiàn)的吸收、增強、散射過(guò)程要復雜得多。若待測元素與標準的基體成份不一致，必然會(huì )使分析結果出現較大誤差。這就是吸收效應、增強效應、散射效應影響，統稱(chēng)為基體效應。希望以上介紹能幫助到大家，若有其他問(wèn)題可咨詢(xún)網(wǎng)站客服。

光譜分析儀