X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)
一、優(yōu)點(diǎn):
1.分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2.X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。
3.非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
4.X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5.分析精密度高。
6.制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
二、缺點(diǎn)：
1.難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。
2.對輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
4.X熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型：波長(cháng)色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
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