光譜分析儀器的優(yōu)劣勢分析
隨著(zhù)時(shí)代的發(fā)展，光譜儀的應用越來(lái)越廣泛。X熒光光譜儀由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。X熒光光譜儀的優(yōu)劣勢分析如下：X熒光光譜儀優(yōu)勢：分析速度快。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。分析精密度高。制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。X熒光光譜儀劣勢：難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。對輕元素檢測的靈敏度要低一些，容易受相互元素干擾和疊加峰影響。希望以上介紹能幫助到大家，若有其他問(wèn)題可咨詢(xún)網(wǎng)站客服。
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