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光譜分析儀分析方法，您知道嗎？

文章出處：先生閱讀數：發(fā)表時(shí)間：2022-2-17 9:49:46 【大中小】

隨著(zhù)時(shí)代的發(fā)展，分析儀的應用越來(lái)越廣泛，今天就帶大家來(lái)介紹一下分析儀的分析方法。X熒光光譜分析儀分析方法是一個(gè)相對分析方法，制樣過(guò)程和步驟有好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線(xiàn)的標準樣品和分析樣品經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X 射線(xiàn)熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，注意分析面相對于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，樣品的損失和沾污。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：(1) 樣品的均勻性。(2) 樣品的表面效應。(3) 粉末樣品的粒度和處理方法。(4) 樣品中存在的譜線(xiàn)干擾。(5) 樣品本身的共存元素影響即基體效應。(6) 樣品的性質(zhì)。(7) 標準樣品的化學(xué)值的準確性。2、引起樣品誤差的原因：(1)樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣;樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結晶及沉淀等。(2)樣品的組分分布不均勻樣品組分的偏析、礦物效應等。(3)樣品的組成引起吸收、效應的差異造成的誤差(4)被測元素化學(xué)結合態(tài)的改變樣品氧化，引起元素百分組成的改變;輕元素化學(xué)價(jià)態(tài)不同時(shí)，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。(5)制樣操作在制樣過(guò)程中的稱(chēng)量造成的誤差，稀釋比，樣品熔融，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準或基準試劑的純度不夠等。希望以上介紹能幫助到大家，若有其他問(wèn)題可咨詢(xún)網(wǎng)站客服。

光譜分析儀